WIT-220全（quán）自動晶圓（yuán）光（guāng）電測試係統

WIT-220晶圓光電測試探針係統綜合考慮穩定性、電噪聲處理、空間布局等設計要求，采用精（jīng）密運動控製係統，高性能隔振係統，結合自主研發圖（tú）像軟件算法，實現高（gāo）穩定性小模斑芯（xīn）片光性能和高精度電性能測試（shì），能夠滿足高精度光測（cè）試指標（biāo）以及pA/nA微信（xìn）號（hào）測量應用要求（qiú），可提前在晶圓級別篩選不良芯片，防止流入後端（duān）工（gōng）藝，節約整體封測成本，提高研發以及生產效率。