半導體（tǐ）激光二級管可（kě）靠性老化測試係統

采用半導體（tǐ）激光器壽命和老化測試係統（tǒng），可以減少測試成本，提高測試效率。係統包含（hán）40個可獨立加溫（wēn）及加（jiā）載電流（liú）的老化抽（chōu）屜，最多可支持1280個（gè）器件的測（cè）試。您可以同時進行多個獨立的測試（shì），提高產量（liàng），降低成本。此係統設計非常彈性，允許（xǔ）您在一個係（xì）統測試多種不同的封裝形式，隻需更換不同的老化抽屜（tì）即可（kě）。係統支持ACC和LIV測試，每一個通道的電（diàn）流典（diǎn）型值為200mA，可最大定製到2000mA輸出。