半導體激光二級管（guǎn）可靠性老化測試（shì）係統

采用半導體激光器壽命和老化測試係統，可以減少測試成本，提高（gāo）測試效率。係統包含40個可獨立加溫及加載電流的老化抽屜，最多（duō）可支持1280個器件的測試。您可以（yǐ）同時進行多個獨立的測試，提高產量（liàng），降低成本。此係統設（shè）計非常彈性，允許您在一個係統測試多種不同的封裝形（xíng）式，隻需（xū）更換（huàn）不同的老化抽屜即可。係統支持ACC和LIV測試，每一個（gè）通道的電（diàn）流典型值為200mA，可最大定製到2000mA輸出。