WIT-220AL全自動（dòng）晶圓光（guāng）電測試係統綜（zōng）合（hé）考慮穩（wěn）定性、電（diàn）噪聲處理、空間布局等設計要求，采用精密運動控製係統，高性能隔振係統，結合自主研發圖像軟件算法，實現高穩定性小模斑芯片（piàn）光性能和高精度電性能測試，支持全自動晶圓（yuán）光柵耦合或者端麵耦合測試，能（néng）夠滿足（zú）高精密光測試指標以及（jí）pA級別電信號測量應用需求。可提前在（zài）晶圓級（jí）別篩選不良芯片，防（fáng）止流入（rù）後端工藝（yì），大幅度節（jiē）約整體（tǐ）封測成本，提高生產效率。目前（qián）已批（pī）量在國內外（wài）客戶產線量產應用。