Inline晶圓測試解決方案

驛麻豆免费视频晶圓測試係統提供超寬(kuān)溫(wēn)帶測試範圍與高精度自動化測試能力,目前也已經具備了晶圓級端麵耦合、RF測試(shì)以及單(dān)die的調測(cè)能力,測試範圍覆蓋(gài)OO/OE/EE等。係統同時兼容天車係統(tǒng)或者AGV係統對接功能。

矽光測試高精度電源模塊解決方案  升級全行(háng)程更高定位精度與(yǔ)重(chóng)複(fù)定位精度

矽光測試高精度電源模塊解決方案  配置溫度傳感器,持續(xù)監控Stage溫度變化

矽光(guāng)測試(shì)高精度電源模塊解決方案  可選配實時探高功能

矽光測試高精度電源模塊解決方(fāng)案  大幅度(dù)提高耦合速度

矽光測(cè)試高精(jīng)度電源(yuán)模塊解決方案  增加自動調整FA角度(dù),提升(shēng)FA校準效(xiào)率

矽光測試高精度電(diàn)源模塊解決方案(àn)  支(zhī)持同種功能的儀表快速切換(huàn)

矽光測試高精度電源模塊解決方案  增加傳(chuán)感器監測晶圓吸附狀態(2~12inch兼容(róng))

矽光(guāng)測試高精度電源模(mó)塊(kuài)解決方案  升級頂部視覺倍率與分(fèn)辨率,並支持一鍵切換倍率

矽光測(cè)試高精度電源模塊解決方案  升級輔助視覺,可清晰觀察光纖/探針與晶圓間相對高度

矽光(guāng)測試高精度電源模塊解決方案  支持自定義高度采(cǎi)樣點,全盤掃高速度分鍾級別以內

矽光測試高精度電源模塊解決方案  全新(xīn)架(jià)構軟件,Prober與Tester分離,Tester支持異步數據處理,實現快速測試



方案詳情

Inline晶圓台的設計需要綜合考慮平整(zhěng)度、穩定性、材料選擇、熱管(guǎn)理、電磁兼容性、真空兼容性、傳輸機製(zhì)、清潔(jié)與維護、傳感器集成、自動化與集成以及安全性與可靠性等多(duō)個方麵,以確保其高效、穩定(dìng)地運行,並滿(mǎn)足半導體製造的需求。


〇    采用機械手臂傳輸晶圓,減少(shǎo)人手動誤操作及橡膠手套對晶圓的汙染(rǎn)

〇    采用陶瓷托盤(pán),保證熱穩定性及(jí)材料物理惰性

〇    具備OO/OE/EE/RF等(děng)測試能力

〇    測試項目和測試範(fàn)圍靈活可配置,成熟測試方案一鍵導(dǎo)入

〇    可定(dìng)製產品數據庫,自(zì)動生成報表

〇    可接入MES係統

〇    無人值守,遠程可控製(zhì)

〇    可對接天車軌道(dào)和協議


Inline晶圓測試解決方案

天車與(yǔ)檢測設備對接係統架構示(shì)意圖


〇    硬件高精度對接‌:通(tōng)過自動定位機構(gòu)與定製化取放接口

〇    軟件智能協同‌:集成MCS係統與實時監控平台

〇    三重安全防護‌:融合防碰撞預警、超時保護和應急供電機製(zhì),確保係統穩定運行與故障快速恢複

方案特點

方案詳情

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